LED尤其大功率LED在初始点亮阶段光度都会有一定的衰减,封装企业为了提供给应用厂家发光稳定的产品或者应用厂家为了获得稳定的LED源材料,通常都会做一些老化试验。当然LED老化试验有多种方式,如常规性老化、过电流冲击破坏性试验等等。 |
1.多颗管串联老化(图一、图二) 1) 恒压老化电路 2) 恒流老化电路 图一 图二 2.多颗管并联老化(图三) 图三 3.多颗管串并联老化(图四、图五) 1)串并恒压老化 2)串并恒流老化 图四 图五 4.单管恒流老化(图六) 图六 比较以上四种老化方式, 1、3种方式中只要有一颗LED出现品质故障,比如LED短路或者断路都会影响别的LED的工作电流参数。第2种方式优于1、3种,任一颗LED特性变化不会影响到别的LED老化参数,但事实上靠电阻限流的方式是不可靠的,电阻本身阻值漂移和LED自身电压特性变化都会严重影响LED参数。显然,第4种单管恒流老化抓住了LED电流工作特性,是最科学的LED老化方式。老化在试验过程中应该是一个非常重要的过程,但在很多企业往往会被忽视,不能进行正确有效的老化,后面对LED本身所进行的包括亮度、波长等所有参数的分析都将不确定。 过电流冲击性老化也是厂家经常使用的一种老化手段,通常使用频率可调、电流可调并且占空比可调的恒流源进行此类老化,以期待短时间内判断LED的品质及预期寿命。 |
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